precision measurementManufacturer
适用于(yú)半導體晶圓、太陽能矽片表面尺寸檢測
檢測範圍 4“、6”、8“、12”
檢測精度 TTV ±0.3um
檢測效率120pcs/min
可以(yǐ)自動生産檢測報告
可以(yǐ)結合Wafer ID自動上(shàng)傳數據
- 适用單位： 半導體晶圓、太陽能矽片表面尺寸檢測
- 檢測周期： 1周
微倫科技
适用于(yú)半導體晶圓、太陽能矽片表面尺寸檢測
檢測範圍 4“、6”、8“、12”
檢測精度 TTV ±0.3um
檢測效率120pcs/min
可以(yǐ)自動生産檢測報告
可以(yǐ)結合Wafer ID自動上(shàng)傳數據
适用于(yú)半導體晶圓、太陽能矽片表面尺寸檢測
檢測範圍 4“、6”、8“、12”
檢測精度 TTV ±0.3um
檢測效率120pcs/min
可以(yǐ)自動生産檢測報告
可以(yǐ)結合Wafer ID自動上(shàng)傳數據
适用于(yú)半導體晶圓、太陽能矽片表面尺寸檢測
檢測範圍 4“、6”、8“、12”
檢測精度 TTV ±0.3um
檢測效率120pcs/min
可以(yǐ)自動生産檢測報告
可以(yǐ)結合Wafer ID自動上(shàng)傳數據
相關新聞
- Battery test equipment - signal chain 2022-05-08
- Installation of EPS emergency power battery and battery internal resistance detection system 2022-05-08
- Automatic control system of stacker reclaimer with convenient installation 2022-05-08
- Appreciate the charm of laser marking visual positioning system 2022-05-08